Контроль качества сборки компонентов микросхем, объединенных по технологии «система в корпусе»
Трудовая функция

Наименование Контроль качества сборки компонентов микросхем, объединенных по технологии «система в корпусе»
Код
D/02.4
Уровень квалификации
4

Происхождение трудовой функции Оригинал
X
Заимствовано из оригинала
1281
Код оригинала Регистрационный номер профессионального стандарта

Трудовые действия Подготовка контрольно-измерительного и диагностического оборудования
Входной контроль компонентов, необходимых для сборки и монтажа микросхемы по технологии «система в корпусе»
Межоперационный контроль качества монтажа компонентов микросхемы, собираемой по технологии «система в корпусе»
Выходной контроль качества собранной микросхемы по технологии «система в корпусе»
Контроль герметичности изготовленных микросхем по технологии «система в корпусе»
Составление отчетной документации проведения контроля параметров и оценки качества сборки и монтажа компонентов микросхемы, объединенных по технологии «система в корпусе»
Необходимые умения Использовать нормативно-техническую документацию по сборке микросхемы по технологии «система в корпусе»
Использовать контрольно-измерительное и диагностическое оборудование для входного контроля компонентов
Использовать контрольно-измерительное оборудование для контроля качества монтажа и сборки компонентов микросхемы, объединенных по технологии «система в корпусе»
Использовать диагностическое оборудование для контроля герметичности микросхемы, собранной по технологии «система в корпусе»
Диагностировать дефекты сборки и монтажа компонентов микросхемы, объединенных по технологии «система в корпусе»
Оформлять отчетную документацию о выполняемых контрольно-измерительных и диагностических работах
Необходимые знания Принципы работы и устройство контрольно-измерительного и диагностического оборудования и его технические возможности в объеме выполняемых работ
Способы контроля геометрических параметров, прогиба, непараллельности, неплоскостности пластин
Методы определения типа электропроводности материалов
Методы определения кристаллографической ориентации полупроводниковых образцов
Методы измерения удельного сопротивления пластин
Методы измерения и контроля качества сборки и герметизации микросхемы, собранной по технологии «система в корпусе»
Способы неразрушающего контроля качества сборки микросхемы, собранной по технологии «система в корпусе»
Методы контроля герметичности микросхемы: опрессовки, вакуумный, вакуумно-жидкостный, люминесцентный и радиоактивный
Виды дефектов микросхем на этапе их сборки и способы его предупреждения
Правила оформления технической документации по контролю и диагностике микросхемы, собранной по технологии «система в корпусе», в объеме выполняемых работ
Виды и правила применения средств индивидуальной и коллективной защиты при выполнении работ
Опасные и вредные производственные факторы при выполнении работ
Правила производственной санитарии
Требования охраны труда, пожарной, промышленной, экологической безопасности и электробезопасности
Другие характеристики

Дополнительные характеристики



Список профессиональных стандартов:
  1. Сборщик микросхем

Возврат к списку