| Наименование | Разработка методик и техническое руководство экспериментальной проверкой технологических процессов и исследованием параметров наноструктурированных материалов |
|
|
|
|
| Происхождение трудовой функции | Оригинал |
|
Заимствовано из оригинала |
|
|
|
| Код оригинала | Регистрационный номер профессионального стандарта |
| Трудовые действия | Сопоставление перечня и требуемой точности измерений параметров исследуемых материалов и процессов с возможностями аналитической базы организации и требованиями государственных и международных стандартов Согласование возможности использования аналитического оборудования сторонних организаций Разработка методик и техническое руководство экспериментальной проверкой технологических процессов и исследованием параметров наноструктурных материалов Подача заявки на закупку оборудования для проведения измерений/испытаний в соответствии с требованиями государственных нормативных документов Контроль исполнения технического задания на проведение измерений и пробных технологических процессов Принятие решения о возможности применения исследованных материалов и технологических процессов в производстве приборов квантовой электроники и фотоники на основе наноструктурированных материалов |
| Необходимые умения | Выбирать методы и средства контроля параметров приборов и материалов квантовой электроники и фотоники Разрабатывать методики контроля технологических процессов и наноструктурированных материалов Осуществлять руководство коллективом исполнителей Разрабатывать технические задания |
| Необходимые знания | Методы диагностики и контроля параметров наногетероструктур и наноструктурных материалов Методы и средства контроля технологических процессов Базовые технологические процессы и технологическое оборудование, используемые в производстве наноструктурированных материалов и приборов квантовой электроники и фотоники Физические принципы работы, области применения и принципиальные ограничения методов и средств измерений Методы расчета погрешностей (неопределенностей) результатов измерений |
| Другие характеристики |