| Наименование | Разработка и аттестация (самостоятельно при условии соответствующей аккредитации или во внешних аккредитованных организациях) методик измерений параметров продукции и технологических процессов, применяемых на предприятии |
|
|
|
|
| Происхождение трудовой функции | Оригинал |
|
Заимствовано из оригинала |
|
|
|
| Код оригинала | Регистрационный номер профессионального стандарта |
| Трудовые действия | Анализ потребности предприятия в методиках измерений Разработка методики измерений параметров продукции и технологических процессов, применяемых на предприятии Аттестация (самостоятельно при условии соответствующей аккредитации или во внешних аккредитованных организациях) методики измерений, применяемые на предприятии |
| Необходимые умения | Разрабатывать требования к методикам измерений параметров продукции и технологических процессов, применяемых на предприятии Разрабатывать методики измерений параметров продукции и технологических процессов, применяемых на предприятии Исследовать показатели точности аттестуемых методик измерений Оформлять результаты разработки и аттестации методик измерений |
| Необходимые знания | Параметры продукции и технологических процессов в области нанотехнологий, подлежащие измерениям Требования к методикам измерений параметров продукции и технологических процессов, применяемых на предприятии Нормативные и методические документы, регламентирующие разработку и аттестацию методик измерений Физические принципы работы, область применения и принципиальные ограничения методов и средств измерений, применяемых в области нанотехнологий (растровой электронной, просвечивающей электронной, атомно-силовой, туннельной, оптической ближнего поля, магнитно-силовой, оже-электронной, ионной микроскопий; электронно-зондового рентгеноспектрального анализа, рентгенофотоэлектронной спектроскопии, оже-электронной спектроскопии, масс-спектрометрии вторичных ионов, локального рентгенофлуоресцентного анализа, рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением, EXAFS- и XANES- спектроскопии; электронографии, дифракции медленных электронов, малоуглового рентгеновского рассеяния, рентгеновской рефлектометрии; комбинационного рассеяния света, эллипсометрии, динамического светорассеяния, люминесцентной спектроскопии, ИК-фурье-спектроскопии) и необходимых предприятию Методы оценки результатов измерений |
| Другие характеристики | Ответственность за результат выполнения собственных работ Деятельность, направленная на решение типовых задач технологического характера |